Caratterizzazione di fotorivelatori al silicio SiPM
I Silicon Photomultiplier sono tra i più avanzati sistemi esistenti nel campo della rivelazione di singolo fotone: presentano dimensioni e costo contenute, hanno un’elevata sensibilità e sono immuni ai campi magnetici (al contrario di molti altri sensori simili), ma hanno anche un rumore elettronico non trascurabile, dovuto a fenomeni quali il Dark Count e l’Optical Crosstalk. Mediante la loro quanticazione è possibile caratterizzare tali sensori: in questa relazione presentiamo alcuni metodi utilizzabili a tale scopo, tra cui un conteggio all’oscilloscopio, una Staircase Analysys e un’analisi di istogrammi di frequenze, basata su dati raccolti digitalmente. E’ inoltre possibile studiare l’andamento di alcune grandezze tipiche degli spettri luminosi, all’oscilloscopio o con istogrammi di frequenze, per individuare il breakdown voltage del rivelatore e i suoi parametri di assetto ottimale. Inne dimostreremo analiticamente la natura poissoniana delle statistiche sottostanti all’emissione di fotoni da parte della sorgente luminosa utilizzata (LED) e al fenomeno di Dark Count.
